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【仪器名称】 涂层测厚仪XHM210F
【仪器品牌】 国产
【仪器编号】
【市场价格】
【本站价格】

XHM-210F涂层测厚仪是具有广泛使用范围的磁性仪器。其技术参数完全符合国家标准。

本仪器是磁性便携式覆层测厚仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。
Fe质探针可检测所有非磁性涂层厚度,例如涂在钢、铁上的漆、粉末涂层、塑料、瓷、铬、铜、锌等。
功能: 

采用了磁感应测厚方法,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度;
可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正; 
操作过程有蜂鸣声提示;

电池电压指示:低电压提示

自动关机
测量方法:F 磁感应 
技术参数
测量范围:0~1250um (其他量程可定制) 

分辨率:0.1/1

最小曲面:F: 凸 5mm/ 凹 5mm

最小测量面积:10mm

最薄基底:0.3mm

使用环境:温度:0-40℃ 湿度:10-85%RH

准确度:±(1.53%h)或±2um

公制/英制:可转换

电源:2节5号电池1

仪器尺寸:02mm×66mm×24mm

重量:99g(含电池)

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